Дефект Стоуна — Уэйлса

Дефект Стоуна — Уэйлса — кристаллографический дефект в углеродных нанотрубках, графене и других кристаллах с гексагональной кристаллической решёткой. Дефект, как полагают, имеет важное значение для механических свойств нанотрубок. Дефект назван в честь Энтони Стоуна и Дэвида Уэйлса из Кембриджского университета, которые описали его в статье 1986 года[2], посвящённой изомеризации фуллеренов. Тем не менее, довольно похожий дефект был описан гораздо раньше в статье о графите[3]. Дефект считается ответственным за наноразмерную пластическую деформацию и способность к деформациям в углеродных нанотрубках.

Дефект Стоуна — Уэйлса в силицене, гексогональный двуслойный оксид кремния (HBS) и графене: модель и изображение просвечивающей электронной микроскопии.[1]

Дефект Стоуна — Уэйлса представляет собой соединённые углеродные кольца с пятью и семью атомами, возникающий благодаря повороту на 90° соседних атомов углерода относительно их центра. Дефект Стоуна — Уэйлса также используется для описания структурных изменений SP² связей наносистем углерода. Например, было предложено, что процесс слияния фуллеренов и углеродных нанотрубок может произойти через последовательность таких перестановок.

Ссылки

Björkman T., Kurasch S., Lehtinen O., Kotakoski J., Yazyev O. V., Srivastava A., Skakalova V., Smet J. H., Kaiser U., Krasheninnikov A. V. Defects in bilayer silica and graphene: common trends in diverse hexagonal two-dimensional systems (англ.) // Scientific Reports : journal. — 2013. — Vol. 3. — P. 3482. — doi:10.1038/srep03482. — . — PMID 24336488.
Stone, A. J.; Wales, D. J. Theoretical studies of icosahedral C₆₀ and some related structures (англ.) // Chemical Physics Letters : journal. — 1986. — Vol. 128, no. 5—6. — P. 501—503. — doi:10.1016/0009-2614(86)80661-3.
Thrower, P.A. The study of defects in graphite by transmission electron microscopy (англ.) // Chemistry and Physics of Carbon : journal. — 1969. — Vol. 5. — P. 217—320.

This article is issued from Wikipedia. The text is licensed under Creative Commons - Attribution - Sharealike. Additional terms may apply for the media files.

[r1-1] Björkman T., Kurasch S., Lehtinen O., Kotakoski J., Yazyev O. V., Srivastava A., Skakalova V., Smet J. H., Kaiser U., Krasheninnikov A. V. Defects in bilayer silica and graphene: common trends in diverse hexagonal two-dimensional systems (англ.) // Scientific Reports : journal. — 2013. — Vol. 3. — P. 3482. — doi:10.1038/srep03482. — . — PMID 24336488.

[2] Stone, A. J.; Wales, D. J. Theoretical studies of icosahedral C₆₀ and some related structures (англ.) // Chemical Physics Letters : journal. — 1986. — Vol. 128, no. 5—6. — P. 501—503. — doi:10.1016/0009-2614(86)80661-3.

[3] Thrower, P.A. The study of defects in graphite by transmission electron microscopy (англ.) // Chemistry and Physics of Carbon : journal. — 1969. — Vol. 5. — P. 217—320.