Шильштейн, Сана Шаевич

Сана Ша́евич Шильште́йн (род. 19 июля 1937) — российско-израильский учёный, доктор физико-математических наук.

В 1965 году защитил диссертацию кандидата технических наук «Структурное исследование несовершенств в некоторых полупроводниковых монокристаллах». На протяжении многих лет работал в Курчатовском институте. Автор ряда изобретений, защищённых патентами, в том числе нейтронного дифрактометра. В 1986 году в составе коллектива авторов удостоен Государственной премии СССР за участие в цикле работ «Новые методы исследования твёрдого тела на основе рассеяния нейтронов стационарных ядерных реакторов» (1961—1984).

В дальнейшем репатриировался в Израиль, работал в Институте Вейцмана, разрабатывая, в частности, рентгенофлюоресцентный метод определения состава предметов древности[1].