Хейкер, Даниэль Моисеевич

Родился 4 апреля 1930 года в Житомире. Закончив с серебряной медалью среднюю школу, в 1947 г. поступил в Московский инженерно-физический институт (окончил в 1953 году, с отличием) и активно участвовал в научных исследованиях под руководством профессора Г.С. Жданова.[1] Тогда были опубликованы его первые работы: “Структура сверхпроводников. Рентгенографическое исследование BiPd” и “Простой метод расчета множителя поглощения в рентгеноструктурном анализе”.

В 1963 г. Д.М. Хейкер с отличием окончил МИФИ и поступил на работу инженером в ВНИИ Асбестцемент. Там создал и возглавил лабораторию физических методов исследования с аппаратурой для электронной микроскопии, ИК-спектроскопии и рентгеновской дифрактометрии.

В 1958 г. Д.М. Хейкер защитил кандидатскую диссертацию на тему «Дифрактометрические методы решения некоторых основных задач рентгеноструктурного анализа».

С 1964 по 2015 г. работал в Институте кристаллографии АН СССР (РАН). Здесь им были созданы эффективные методики дифрактометрического исследования разнообразных монокристаллов, в том числе жидких и кристаллов белков, а также поликристаллических и полимерных материалов.

В 1972 г. защитил докторскую диссертацию «Рентгеновская дифрактометрия» : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.00.00. - Москва, 1971. - 278 с.

Д.М. Хейкер внес значительный вклад в развитие отечественного приборостроения и создание отечественных рентгеновских дифрактометров. Под руководством Д.М. Хейкера были созданы сцинтилляционный и пропорциональный счетчики, а также многочисленные гониометрические приставки к серийному рентгеновскому дифрактометру. Эти разработки были положены в основу создания рентгеновского дифрактометра общего назначения ДРОН в НПО “Буревестник”.

Совместно с СКБ Института кристаллографии и НПО “Буревестник” под его руководством были разработаны автоматические наклонные дифрактометры типа ДАР и четырехкружный автоматический дифрактометр для монокристаллов типа РЭД. Дифрактометры ДАР и РЭД выпускались малыми сериями, и ими были оснащены многие лаборатории СССР.

С середины 1970-х гг. вёл работы по разработке и изготовлению автоматических рентгеновских дифрактометров с координатными двумерными детекторами.

На базе СКБ Института кристаллографии и НПО “Буревестник” под его руководством был разработан и изготовлен многоканальный дифрактометр для исследования белков ДАРК 2.0.

В 1980 г. совместно с учёными ЛВЭ ОИЯИ (Дубна) и СКБ Института кристаллографии создал дифрактометр КАРД с двумерным детектором на основе пропорциональной камеры с 256 х 256 элементами пространственного разрешения. В течение многих лет на этом приборе в стране исследовались сотни образцов монокристаллов белков и их производных, а также вирусов.

Д.М. Хейкер вместе с коллегами занимался разработкой станций для рентгеноструктурного анализа на пучках синхротронного излучения. В 2006 г. были завершены работы по созданию первой в России станции белковой кристаллографии “Белок” на накопителе “Сибирь 2” и начата ее регулярная эксплуатация.

При активном участии Д.М. Хейкера было завершено создание многоцелевой станции рентгеноструктурного анализа “РСА” на боковом пучке из вигглера накопителя “Сибирь 2", которая позволила с высокой точностью и чувствительностью исследовать атомную структуру, включая наноструктуру на монокристаллических и порошковых образцах, а также измерять с высокой точностью диффузный фон для определения структуры нанокластеров в монокристаллах.

Заслуженный деятель науки РФ (1998). Награждён медалями «За доблестный труд» и «Ветеран труда», шестью медалями ВДНХ.

• Рентгеновская дифрактометрия [Текст] / Д. М. Хейкер, Л. С. Зевин ; Под ред. проф. Г. С. Жданова. - Москва : Физматгиз, 1963. - 380 с. [2]
• Рентгеновские методы исследования строительных материалов [Текст] / Л. С. Зевин, Д. М. Хейкер. - Москва : Стройиздат, 1965. - 362 с.
• Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов [Текст]. - Ленинград : Машиностроение. [Ленингр. отд-ние], 1973. - 256 с.
• A Coordinate X-Ray Diffractometer Based on a Two-Dimensional Proportional Chamber and a Two-Circle Goniometer. Andrianova M.E., Kheiker D.M., Popov A.N., Simonov V.I., Anisimov Yu.S., Chernenko S.P., Ivanov A.V., Movchan S.A., Peshekhonov V.D., Zanevsky Yu.V. – Journal of Applied Crystallography. 1982. Т. 15. С. 626.[3]
• Using a Two-Dimensional Detector for X-ray Powder Diffractometry. Sulyanov S.N., Popov A.N., Kheiker D.M. – Journal of Applied Crystallography. 1994. Т. 27. № pt 6. С. 934-942.[4]
• Кристалл-монохроматор с большой кривизной сагиттального изгиба. Хейкер Д.М., Шишков В.А., Шилин Ю.Н., Русаков А.А., Дороватовский П.В., Жаворонков Н.В. – Кристаллография. 2007. Т. 52. № 4. С. 767-769.[5]
• Станция белковой кристаллографии на пучке СИ из поворотного магнита накопителя "Сибирь-2". Хейкер Д.М., Ковальчук М.В., Шилин Ю.Н., Шишков В.А., Сульянов С.Н., Дороватовский П.В., Русаков А.А. – Кристаллография. 2007. Т. 52. № 2. С. 374-380.[6]  
• Станция рентгеноструктурного анализа материалов и монокристаллов, включая нанокристаллы, на СИ из вигглера накопителя "Сибирь-2". Хейкер Д.М., Ковальчук М.В., Корчуганов В.Н., Шилин Ю.Н., Шишков В.А., Сульянов С.Н., Дороватовский П.В., Рубинский С.В., Русаков А.А. – Кристаллография. 2007. Т. 52. № 6. С. 1145-1152.[7]
• Тепловые деформации в фокусирующих каналах станций рентгеноструктурного анализа накопителя "Сибирь-2". Хейкер Д.М., Коноплев Е.Е., Молоденский Д.С., Шишков В.А., Дороватовский П.В. –Кристаллография. 2010. Т. 55. № 5. С. 954-960.[8]    
• Эффективность фокусирующего канала станции "Белок" на накопителе "Сибирь-2". Молоденский Д.С., Дороватовский П.В., Забродский В.В., Хейкер Д.М. – Кристаллография. 2010. Т. 55. № 5. С. 949-953.[9]          
• Расчет параметров станции рентгеноструктурного анализа (РСА) с адаптивной сегментированной оптикой на боковом пучке вигглера в накопителе "Сибирь-2". Молоденский Д.С., Хейкер Д.М., Корчуганов В.Н., Коноплев Е.Е., Дороватовский П.В. – Кристаллография. 2012. Т. 57. № 3. С. 520.[10]

• Устройство для формирования рентгеновского пучка и устройство для изгиба кристалла[11]
• Фокусирующий монохроматор[12]