Субшероховатость

Субшероховатость обнаруживается с помощью современных прецизионных методов и средств исследования поверхностей, таких, как сканирующий туннельный и атомно-силовой микроскопы, которые обладают разрешающей способностью порядка 1-10 нм. Субшероховатость формируется поверхностными неровностями с характерными размерами по высоте порядка 1-100 нм и по шагу — 10-1000 нм. Образование субшероховатости тесно связано с внутренней структурой твёрдого тела, её дефектами, а также процессами взаимодействия поверхности с окружающей средой (окисление, адсорбция).

•  (англ.) Myshkin N.K., Petrokovets M. I., Chizhik S. A. «Basic problems in contact characterization at nanolevel» // Trib. Int. 1999. V. 32, № 7. P. 379—385.