Реньо (лунный кратер)
Кратер Реньо (лат. Regnault) — крупный древний ударный кратер в северном полушарии видимой стороны Луны. Название присвоено в честь французского химика и физика Анри Виктора Реньо (1810—1878) и утверждено Международным астрономическим союзом в 1935 г. Образование кратера относится к нектарскому периоду[1].
Реньо | |
---|---|
лат. Regnault | |
Характеристики | |
Диаметр | 51,3 км |
Наибольшая глубина | 2520 м |
Название | |
Эпоним | Анри Виктор Реньо (1810—1878) — французский химик и физик. |
Расположение | |
54°02′ с. ш. 87°53′ з. д.54,04° с. ш. 87,88° з. д. | |
Небесное тело | Луна |
Медиафайлы на Викискладе |
Описание кратера
Кратер Реньо перкрывает западную часть вала кратера Вольта. Другими ближайшими соседями кратера являются кратер Почобут на северо-западе; кратер Ксенофан на северо-востоке и кратер Стокс примыкающий к южной части вала кратера Реньо. На востоке от кратера расположен Океан Бурь[2]. Селенографические координаты центра кратера 54°02′ с. ш. 87°53′ з. д.54,04° с. ш. 87,88° з. д., диаметр 51,3 км[3], глубина 2520 м[4].
Кратер Реньо имеет полигональную форму и несколько вытянут с севера на юг. Вал сглажен, в южной части немного спрямлен. Внутренний склон неравномерный по ширине, наиболее широкий в южной части, сохранил слабые остатки террасовидной структуры. Высота вала над окружающей местностью достигает 1090 м[1], объем кратера составляет приблизительно 1650 км³[1]. Дно чаши ровное, отмечено множеством мелких кратеров.
Сателлитные кратеры
Реньо | Координаты | Диаметр, км |
---|---|---|
C | 55°06′ с. ш. 89°10′ з. д.55,1° с. ш. 89,16° з. д. | 13,9 |
W | 53°25′ с. ш. 89°46′ з. д.53,42° с. ш. 89,77° з. д. | 14,2 |
См.также
Примечания
- Lunar Impact Crater Database. Losiak A., Kohout T., O’Sulllivan K., Thaisen K., Weider S. (Lunar and Planetary Institute, Lunar Exploration Intern Program, 2009); updated by Öhman T. in 2011. Archived page.
- Кратер Реньо на карте LAC-21
- Справочник Международного Астрономического Союза
- John E. Westfall's Atlas of the Lunar Terminator, Cambridge Univ. Press (2000)