Берсукер, Геннадий Исаакович
Геннадий Исаакович Берсукер (англ. Gennadi Bersuker; род. 1953, Кишинёв) — советский и американский физик, автор трудов по физике полупроводников.
Геннадий Исаакович Берсукер | |
---|---|
Дата рождения | 1953 |
Место рождения | Кишинёв, Молдавская ССР |
Страна | |
Научная сфера | физик |
Место работы | Техасский университет в Остине |
Альма-матер | Санкт-Петербургский государственный университет |
Научный руководитель | Виктор Зигфридович Полингер |
Известен как | физика полупроводников |
Биография
Родился в Кишинёве, в семье химиков Исаака Боруховича Берсукера и Лилии Борисовны Берсукер (1930—2003). В 1970 году окончил кишинёвскую среднюю школу № 34[1], затем физико-математический факультет Ленинградского государственного университета[2]. Диссертацию кандидата физико-математических наук по теме «Многомодовый эффект Яна-Теллера в многоатомных системах с двукратно вырожденным электронным состоянием» защитил в 1980 году в Кишинёвском университете под руководством В. З. Полингера[3][4]. Был научным сотрудником Института химии Академии наук Молдавской ССР, затем работал в Лейденском университете. С 1991 года — в Остине (штат Техас), сначала в Техасском университете в Остине, в 1994—2014 годах — в Sematech (Остин), с 2014 года — в The Aerospace Corporation (Лос-Анджелес)[5].
Опубликовал более 300 работ по электронным свойствам диэлектриков, физике попупроводников, кристаллохимии[6][7]. Член редколлегии журнала «Transactions on Device and Materials Reliability»[8].
Сыновья — Евгений (род. 1979) и Кирилл (англ. Kirill Bersuker, PhD), учёный в области молекулярной биологии и цитологии (Стэнфордский университет).
Примечания
- Выпускники школы № 34 (недоступная ссылка)
- IEEE Electron Devices Society (недоступная ссылка). Дата обращения: 22 октября 2017. Архивировано 26 октября 2017 года.
- Многомодовый эффект Яна-Теллера в многоатомных системах с двукратно вырожденным электронным состоянием
- Интервью с И. Б. Берсукером
- Б. Цукерблат, Ю. Систер, К. Жигня «Академик Исаак Борисович Берсукер»
- Dielectrics for future transistors
- Metal oxide resistive memory switching mechanism based on conductive filament properties
- Transactions on Device and Materials Reliability (недоступная ссылка). Дата обращения: 22 октября 2017. Архивировано 23 сентября 2017 года.